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台式测厚仪
FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230的每个设计元素均旨在减少完成XRF测量所需的时间,有助于更快地根据测试结果采取行动,减少浪费并提高工作效率。从根本上说,我们让操作人员与仪器的交互变得越来越简单。

使用 FT230 实现无间断生产

1.快速分析
自动聚焦加快样品装载速度,即使在不同形状和尺寸的组件之间切换时依然如此。
2.快速设置
智能识别功能Find My PartTM(查找我的样品)会自动选择正确的分析程序,并找到正确的分析点。
3.出色的可视性

仪器可选配广角相机,在更大面积上显示样品视图。这一功能加上可调节的发光二极管照明装置,使得精确定位目标区域变得容易。

4.最大正常运行时间
自检诊断可确认仪器的稳定性和健康状况。并可将数据共享至安全的日立ExTOPE Connect云数据服务,以便后台仪器支持专家给予技术支持。

5.无缝集成
与其他软件系统(如QMS、SCADA、MES和ERP)无缝集成,为内部用户和外部客户提供简单、可定制的数据导出和报告创建途径。
6.易于使用
新型用户界面专为非XRF专家用户设计。直观而整洁,只需点击鼠标即可进行正确的分析。
7.功能强大且用途广泛

FT230简化了测试程序,能分析基材上多达四层镀层,也可分析金属合金和镀液成分。

FT230技术规格

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