YD-03手持式X射线荧光光谱仪是一款基于X射线荧光光谱分析技术的先进检测设备，广泛应用于金属、合金、土壤、矿石、油品、镀层等多种材料的元素成分分析与厚度测量。该设备集高性能硬件、智能算法与人性化设计于一体，可在现场快速、无损地完成定量与定性分析，是工业检测、质量控制和资源勘探等领域的理想工具。

核心特点

高精度与高准确度

• 采用多靶材X射线光管与高性能SDD探测器，支持从镁（Mg）到铀（U）的元素分析。
• 结合基本参数法（FP）与卷积神经网络技术，实现无标样快速分析，精度可达0.1%。
• 支持轻元素（如Mg、Al、Si、P、S）分析，无需氦气或真空环境。

高效便携与长续航

• 整机重量＜1.7kg，符合人体工程学设计，握持舒适。
• 配备六芯18650锂电池，单次充电可连续工作10–12小时。
• 支持热插拔更换电池，满足长时间野外作业需求。

智能系统与易操作性

• 搭载高通骁龙处理器与Android操作系统，响应迅速，操作流畅。
• 5.5英寸高亮度触摸屏，支持阳光直射环境下清晰显示。
• 界面简洁直观，支持中英文切换，无需专业培训即可上手。

全方位防护与安全保障

• 多重X射线防护设计，配备红外感应与计数率监控系统，确保使用安全。
• 坚固外壳与IP54防护等级，适应各种恶劣环境。
• 具备密码保护功能，防止未经授权操作。

应用领域

• 合金分析 ：不锈钢、工具钢、镍合金、铝合金、钛合金等牌号鉴定与成分分析。
• 废旧金属分选 ：快速识别金属种类与贵金属含量，提升回收价值。
• 三元催化检测 ：精准分析铂、钯、铑等贵金属含量。
• 土壤与矿石检测 ：现场快速筛查重金属元素，支持环境监测与矿产勘探。
• 镀层厚度测量 ：支持单层镀层如铜上镀银、铁上镀锌等厚度分析。

技术参数

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