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X-Strata920镀层测厚仪
日立X-Strata920 镀层测厚仪，台式XRF镀层测厚仪
X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 镀层测厚仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析

台式 XRF 镀层测厚仪

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 镀层测厚仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。


X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用，软件直观，可由非专业人员操作，并可轻松融入您的生产或质量保证部门。


技术规格


最大化精度，最小化浪费


当决定产品成败的差异小于1微米时，请选择X-Strata920进行精确镀层分析


如果您在电子产品或金属表面处理行业工作，我们可提供适于您业务的解决方案。X-Strata920具有多种配置选择，可分析单镀层和多镀层（包括合金层）。


我们的内部专家会对常规和复杂镀层结构进行测试及测量，确保您获得可靠、可重复结果以满足数百种应用，包括：PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面处理、耐磨损处理、耐高温性等。


X-Stata920提供四种基台配置以适应任意形状的零件。带有标准或宽固定基台的开槽的样品舱适合处理小型零件或长而薄的样品，而加深样品舱则可灵活测量较高的零件。选择程控样品台，可自动测量多个样品或单个组件上的各个位置。


X-Strata920


为工作选择正确的工具


通过选择比例计数器或硅漂移探测器（SDD），可确保拥有正确配置。


比例计数器适用于大多数应用场合，但对于含有少量种类元素的简单镀层结构而言，其效果最佳。当您需要分析更复杂的镀层结构或需要测量非常薄的镀层（<0.05μm）时，推荐使用SDD。


X-Strata920 这一出色的工具可确保样品符合规格，同时通过避免过度电镀造成的化学品浪费和减少电镀不足造成的废料和返工来降低成本。操作员只需加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即

可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。


这意味着您可确保在操作中最大限度地提高生产力。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。


使用X-Strata920可遵从各种行业标准，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。


镀层测厚仪


产品亮点


X-Strata920 具有多种选项和多功能性，可容纳各种样品，每次都能提供精确的分析。


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