X荧光光谱仪与火花直读光谱仪的区别和联系

分析原理：

X荧光光谱分析仪是利用高能量的X光，打击试样，使试样中被测元素的内层电子被激发打走，次内层电子回落到内层，同时产生一个光子，这个光子具有特定的频率，与其他原子同样条件下产生的光子不同，仪器再经过光栅色散，把这一种元素产生的单色光分离出来，再利用一个光电管，把这一种光信号转变为电信号，这个电信号与试样中被测物质的含量成一定的比例关系。但是这样并不能获得试样中被测物质的含量，还必须与标准试样在同样条件下获得的电信号进行比较才能获得试样中被测物质的百分含量。

荧光光谱仪原理，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为（10）-12-（10）-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态，这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随及在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

荧光光谱仪产品特点

仪器是由计算机控制，自动化水平高，分析速度快，它不需要像火花直读光谱那样需要试样具有导电性，所以可以完成非金属试样的分析，它可以同时完成多个被测元素或被测组分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同时完成。多数用户的X荧光光谱分析仪只是专门用来分析精矿粉、石灰、青石、白云石、炉渣、溶剂等不导电的试样。同时它也可以进行金属材料等导电试样的分析。其他特点与直读光谱相同。

X射线荧光直读光谱仪可以分析粉末样品、熔融样品、液体样品、固体样品等，非金属或金属都可以分析。

火花直读光谱仪只能分析固体样品，而且要求样品是导电介质，简单的说就是分析金属固体样品中的金属或非金属元素。

（日本理学波长色散X射线荧光光谱仪）

最后说说它们的精度（分析正确度）

除了ICP以外，直读光谱和X荧光都依靠标准样品的质量。如果，不能准备完全的标准样品，不可能得到标准偏差。标准样品是当然一定要没有偏析，正确的标准值。